Prueba ambiental de la confiabilidad del semiconductor

November 4, 2021

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Los dispositivos de semiconductor son muy sensibles a las impurezas y al polvo. Por lo tanto, es muy necesario controlar exactamente el nivel de impurezas y de polvo en el proceso de producción complicado. La calidad del producto final es suficiente para cada etapa de producción relativamente independiente e interactiva en la producción, tal como metalización, material del microprocesador, empaquetado, etc.

Debido al adelanto rápido de la tecnología, de los nuevos materiales y de los nuevos procesos se están utilizando constantemente en dispositivos desarrollados recientemente, y el mercado continúa proponiendo los requisitos exigentes por tiempo de diseño, así que es básicamente imposible realizar diseño de la confiabilidad según productos existentes. Para alcanzar ciertos indicadores económicos, los productos de semiconductor se producen siempre en grandes cantidades; y es poco práctico reparar productos de semiconductor. Por lo tanto, se ha convertido en un requisito muy necesario para que los productos de semiconductor añadan el concepto de confiabilidad en la etapa de diseño y reduzcan variables en la etapa de producción.


La confiabilidad de los dispositivos de semiconductor depende de la asamblea, del uso, y de condiciones ambientales. Influenciando factores incluya el gas, polvo, contaminación, voltaje, densidad corriente, temperatura, humedad, tensión, intercambiando la vibración, la fuerza severa de la vibración, de la presión y del campo electromagnético.

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Prueba ambiental de la confiabilidad del semiconductor
Prueba de la temperatura y de ciclo del prejuicio de la humedad
Prueba de vida húmeda de estado estacionario del prejuicio del calor
Acelerado altamente cocinando la prueba
Prueba de vida da alta temperatura de almacenamiento
■Prueba de ciclo de la temperatura
■Poder-en prueba de ciclo de la temperatura
■Prueba de choque de la temperatura
Prueba de espray de sal
Prueba diagonal de la vida laboral de la temperatura
■Prueba de vida altamente acelerada
■Prueba de vida altamente sin perjuicio acelerada
■Prueba de la frecuencia de la vibración y de barrido